Chroma Model 58173 LED 全光通量自动测试系统
2016-03-18
硬体设备
半自动 LED wafer/chip 点测设备
漏电流测试模组
电源量测单元
光学测试模组
ESD 测试模组 (选配)
Chroma Model 58173 LED 全光通量自动测试系统是一组全新独特的量测 LED 全光 通量之自动化测试系统。在LED的裸晶与晶粒测 试生产线中，常见使用部份光通量来取代全光通 量之量测方式 (见图1)。然而，传统的方式存在 一些缺点，例如：准确度较低、讯噪比较低、测 试时间较长等，以致于导入LED 的裸晶与晶粒生 产线时会发生问题。
致茂研发出一种全新、高速且高精确度之 LED 全光通量之量测方式(见图2)。 这种创新的量测 方式不仅比传统方式收集更多的 LED 部分光通 量，也明显的改善提升了量测精确度。
在光学量测方面，主波长、峰波长、色温等均可 透过致茂独特的光学设计与元件取得精确且稳定 快速之数据；在机构方面，58173 搭载一个6吋 的晶片载盘与校正基座，提供使用者一个完整 的校正与测试平台；在电性测试方面，58173 则 具备完整之电源量测单元，无论顺向电压、漏电 流、逆向崩溃电压等 LED 电性特性，均可于一 次满足使用者的测试需求。长沙艾克赛普仪器设备有限公司作为台湾Chroma公司湖南区域的总代理，以下为长沙艾克赛普仪器设备有限公司为您简单介绍Chroma Model 58173 LED 全光通量自动测试系统的技术参数及产品特点，如果您想对Chroma Model 58173 LED 全光通量自动测试系统有更多的了解，欢迎致电长沙艾克赛普仪器设备有限公司，联系电话：0731-84284278 84284378。更多产品信息欢迎点击：www.cafa100.cn。长沙艾克赛普仪器设备有限公司。
Chroma Model 58173 LED 全光通量自动测试系统主要特色：
Chroma Model 58173 LED 全光通量自动测试系统提供全方位电性测试 (200V/2A) ，可满足HV及HP测试
Chroma大面积光侦测器(量测角度可达128度)
半自动精密LED wafer/chip点测设备
特制Edge Sensor具有点测针压稳定，无疲乏与针压变动问题
机械视觉定位系统，缩短人工操作时间
自动抽测功能
弹性调整的软体操作界面
快速芯片扫描系统
自动破片扫描演算法
遮光罩设计，杜绝背景光干扰
即时显示点测资料分布图
完善的量产测试统计报表及分析工具
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